VIA Technologies, Inc.

提高安全性

提高安全性

減少工作人員對強光和化學品的接觸。

提升效率

提升效率

消除人為錯誤,提高晶圓瑕疵偵測的準確性。

降低成本

降低成本

提高生產品質,同時減少工作人數和檢測支出。

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概述

使用高度精確的目視檢測解決方案來加速晶圓瑕疵偵測。

此先進解決方案適用於所有尺寸的晶圓,透過最佳化的 AI 模型分析工業攝影機拍攝的晶圓影像來找出瑕疵。透過消除因注意力不足、疲勞和判斷力不佳而導致的人為錯誤,即使是最細微的瑕疵,也能精確辨識,實現近 100% 的召回率和低於 5% 的誤報率。

該解決方案將檢測流程自動化,協助矽晶圓製造商和裝配廠大幅提高工廠效率和保障操作員安全。該解決方案結合強大的邊緣 AI 處理能力與 ERP 網路或公司雲端的無縫連線能力,提供豐富的資料分析和洞察力,使企業可以進一步提高作業效率和安全性。

特點聚焦

威盛晶圓瑕疵檢測解決方案部署快速、簡單,並且可擴充至多條生產線。該解決方案由以下主要元件組成,可依特殊使用需求進行自訂:

AI 推論和訓練伺服器

晶圓瑕疵偵測專用 AI 模型

USB 工業攝影機

應用示例

industrial wafer inspection solution use case

全球頂尖的半導體公司運用晶圓瑕疵檢測解決方案,加快瑕疵偵測流程,降低人事成本,並打造出更安全、更乾淨的環境。

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憑藉先進的威盛晶圓瑕疵檢測解決方案提高晶圓生產品質,運用精確的檢測能力,大幅地減少瑕疵並改善生產效率。與我們聯繫以獲得更多資訊!

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